Bildartefakte: Kantendurchstrahlung
Die Spannung nieder!
    Kleine und dünne Objekte wie Tonminerale oder solche mit dünnen Kanten werden bei hoher Anregungsspannung vom Elektronenstrahl durchdrungen und erscheinen dann ohne Kontrast hell. Hier wird die Bildinformation nicht nur an der Oberfläche, sondern auch in der Tiefe des Objekts produziert. Kantenverrundung und Informationsverlust sind die Folge. Im Extremfall wird nicht nur das Signal des Objekts, sondern auch der Untergrund abgebildet, auf dem es aufsitzt.

    Mit niedriger Anregungsspannung und guter Goldbesputterung lässt sich der Effekt weitgehend unterdrücken.

    Umgekehrt lässt sich der Effekt nutzen, um dünne Beschichtungen zu durchdringen und die Oberfläche des Basismaterial abzubilden (z. B. SiOx-Schichten auf Stahl.


Anregung von Cu-Pulver an der Oberfläche (weiß) und unter dünner Kunstharzbedeckung (grau, Pfeile) in einem harzgebundenen Diamantschleifbelag. Das "elektronisch weiche" Kunstharz wird hier durchstrahlt.

Anregungsspannung 40 kV: Kantendurchstrahlung an Steinsalzwürfeln. Obwohl würfelig vom Habitus, erscheinen die Kristallkanten abgerundet, weil Sekundärelektronen auch innerhalb des Würfels angeregt werden. Der Kristall rechts wird vollständig durchstrahlt. Der Hintergrund, eine Schneckengehäuse, liefert kaum Oberflächeninformation.


Anregungsspannung 20 kV: deutliche Kantendurchstrahlung und Verrundung der Oberflächen der Steinsalzkristalle, geringe Oberflächeninformation der Umgebung.


Anregungsspannung 10 kV: Kantendurchstrahlung der Steinsalzkristalle, Relief auf den Kristallflächen schwach erkennbar, mäßige Oberflächeninformation der Umgebung.


Anregungsspannung 5 kV: geringe Kantendurchstrahlung der Steinsalzkristalle, Relief auf den Kristallflächen gut erkennbar, gute Oberflächeninformation der Umgebung.


Anregungsspannung 1 kV: kaum Bildinformation von den Steinsalzkristallen und der Umgebung durch zu geringe Anregung, Abbildung von Kontaminationsschichten (dunkel) unmittelbar an der Oberfläche.


 
[FELS WERKSTOFFANALYTIK]